日本Otsuka大塚薄膜厚度检测仪的测定步骤须知

　　当光源发出的光波照射到被测膜层时，一部分光波会在膜层表面反射，另一部分则穿透膜层并在其与基底的界面上再次反射回来。这些反射光之间因路径差异形成干涉现象，日本Otsuka大塚薄膜厚度检测仪通过探测器接收并分析反射/透射光波的相位差，即可准确计算出薄膜厚度。此方法适用于透明及不透明薄膜的测量。
 

　　日本Otsuka大塚薄膜厚度检测仪的测定步骤：
 

　　1.准备工作
 

　　-安装与通电：确认仪器已经正确安装并接通电源。
 

　　-预热仪器：开启仪器后，让其预热至稳定状态，以确保测量的准确性。
 

　　-选择校准标准：挑选与待测材料相似的校准块，且校准块的厚度应覆盖待测材料的厚度范围。
 

　　-设置校准模式：依据仪器说明书，选择合适的校准模式。
 

　　2.校准操作
 

　　-校准零点：将探头放置在无涂层的基底材料上，进行零点校准。
 

　　-校准多点：把探头依次放置在校准块的不同厚度位置，记录仪器的读数，并在每个校准点上停留足够时间，以获取稳定数值。
 

　　3.实际测量
 

　　-清洁样品表面：保证待测样品表面干净、光滑，无灰尘、污垢或附着物，粗糙的表面会影响探头与样品的接触，降低测量精度。
 

　　-定位测量点：避免在样品的边缘或转角处进行测量，尽量选择平整、具有代表性的区域作为测量点。若使用管状适配器连续测定平面，可使测量更稳定。
 

　　-执行测量：抓住与测定部接近的部分，迅速在与测定面成垂直的角度按下探头进行测量。每次测量要从探头的前端测定面开始离开10mm以上。
 

　　-记录结果：等待测量结果显示完成后，记录测量得到的薄膜厚度数值。根据需要，可重复上述步骤多次测量并取平均值，以提高测量结果的准确性。