日本Otsuka大塚薄膜厚度检测仪 OPTM 系列

产品简介：

日本Otsuka大塚薄膜厚度检测仪 OPTM 系列
可携带至现场的手持式可测量0.1μm单位
具有形状的样品也可非破坏的测量

产品型号：OPTM-A2

更新时间：2025-04-21

厂商性质：经销商

访问量：247

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产品介绍

可携带至现场的手持式

日本Otsuka大塚薄膜厚度检测仪 OPTM 系列
● 可测量0.1μm单位

● 具有形状的样品也可非破坏的测量

● 不论基材材质、可测量其镀膜

日本Otsuka大塚薄膜厚度检测仪 OPTM 系列
与桌上型光学膜厚仪相比，Smart膜厚仪在“现场"以非破坏式直接量测样品，且可以量测特殊形状样品。
与接触式膜厚仪相比，Smart膜厚仪不仅不会破坏您的样品，也不会因用户不同而产生误差且远高于接触式膜厚的量测精度。
与涡电流/电磁式膜厚仪相比，Smart膜厚仪不需要制作检量线，且可以量测非金属基材并且得到绝对值！

非接触式载台

对于湿膜或半导体晶圆等不想接触的样品，可以通过自由设定探头位置进行非接触测量。

产品开发-量测试作品

1.携带到合作厂商等，直接在现场量测效率Up

2.试作阶段的检查方法商定效率Up

规格样式

量测原理	反射分光法（光干涉法）、非破坏性量测
膜厚量测范围	1~50μm（显示上限60μm）
重复精度	2.1σ 0.01μm（SiO2膜1μm）
量测时间	1秒内
量测层数	1层
数据输出	附属操作屏幕显示或以USB输出Excel档案
量测Spot	Φ1mm以下
重量	约1.1kg

选配

笔型探头

能够测量狭窄区域或形状的样品。探头端Φ6mm。

膜厚测量范围	1μm～50μm
测量重复性	0.01μm
测量时间	1秒以下

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